隐裂是指电池片（组件）受到较大的机械或热应力时，可能在电池单元产生肉眼不易察觉的隐性裂纹。

       晶硅组件由于其自身晶体结构的特性，十分容易发生破裂。在晶体硅组件生产的工艺流程中，许多环节都有可能造成电池片隐裂；

       电池片在焊接、层压、装框或搬运、测试等过程中会受外力作用，当参数设置不当、设备故障或操作不当时会造成隐裂；

       电池片在低温下没有经过预热，然后在短时间内突然遇到高温后出现膨胀会造成隐裂现象，如焊接温度过高、层压温度等参数设置不合理；

       原材料自身的缺陷。

     根据电池片隐裂的形状，可分为树状裂纹、综合型裂纹、斜裂纹、平行于主栅线、垂直于栅线和贯穿整个电池片的裂纹。

      晶硅太阳能电池片产生的电流主要靠表面相互垂直的主栅线和细栅线收集和导出。因此，当隐裂（多为平行于主栅线的隐裂）导致细栅线断裂时，电流将无法被有效输送至主栅线，从而导致电池片部分乃至整片失效，还可能造成碎片、热斑等，同时引起组件的功率衰减。

     EL（Electroluminescence，电致发光）是一种太阳能电池或组件的内部缺陷检测设备，是简单有效的检测隐裂的方法。利用晶体硅的电致发光原理，通过高分辨率的红外相机拍摄组件的近红外图像，获取并判定组件的缺陷。具有灵敏度高、检测速度快、结果直观形象等优点。